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UV-A紫外輻照計(單通道)
UV-A紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，UV-A紫外輻照計外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A紫外輻照計產品特點:
光譜及角度特性經嚴格校正
數字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換數字輸出接口（USB冗余供電）
低電量提醒
自動延時關機
有數字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-A紫外輻照計主要技術指標:
探頭（二選其一）：
UV-420nm 探頭
UV-365nm 探頭
波長范圍及峰值波長:
λ：(375～475)nm；λP＝420nm
λ：(320～400)nm；λP＝365nm
紫外帶外區(qū)雜光：
UV420：小于0.02%
UV365：小于0.02%
輻照度測量范圍：
(0.1～199.9×103)
μW/cm2
相對示值誤差：
±10%（相對與NIM標準）
角度響應特性：
±5%(α ≤10°)
線性誤差：
±1%
短期不穩(wěn)定性：
±1%（開機30min后）
響應時間：
1秒
使用環(huán)境：
溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
尺寸和重量：
160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源：
常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只
亦可使用數據線連接USB接口、5V電源適配器供電
整機功耗 ＜0.1VA
