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紅外測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、聲級(jí)計(jì)、測(cè)振儀、轉(zhuǎn)速表、測(cè)溫儀、風(fēng)速儀、溫濕度儀、粗糙度儀、硬度計(jì)、照度計(jì),兆歐表等測(cè)試儀器。希爾思流量計(jì)。露點(diǎn)儀。
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奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭使用
日期：2025-12-10 22:11
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摘要：
奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭M208測(cè)量薄塑料材料
奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭使用
使用20 MHz延遲塊探頭測(cè)量薄塑料材料。用戶使用單晶軟件選項(xiàng)，olympus 45MG可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為**的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭使用
奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭特點(diǎn)及應(yīng)用，奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭使用
- 大多數(shù)薄材料和厚材料
- 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
- 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
- 汽缸孔、渦輪葉片
- 玻璃燈泡、瓶子
- 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
- 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀配合單晶探頭使用