Part III 2651A的應(yīng)用領(lǐng)域

輕松支持當(dāng)今具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用：
功率半導(dǎo)體、HBLED和光器件特性分析和測(cè)試
GaN、SIC及其他復(fù)合材料和器件的特性分析
高速、高精度數(shù)字化
電遷移研究，電流、大功率器件測(cè)試

Part III 2651A的應(yīng)用領(lǐng)域

1.每種測(cè)量模式下使用兩個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器(一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓)，可同時(shí)運(yùn)行用于準(zhǔn)確源讀回，不會(huì)影響測(cè)試效率。

當(dāng)用于一個(gè)系統(tǒng)時(shí)，全部2600A系列的通道以500ns同步，實(shí)現(xiàn)真正的SMU-per-pin測(cè)試，主機(jī)不存在功率或通道限制。

2.將熱效應(yīng)降至*小，準(zhǔn)確特性分析半導(dǎo)體結(jié)溫效應(yīng)

準(zhǔn)確源出和測(cè)量短至100μs的脈沖，并且脈沖從100μs至直流、上升時(shí)間從25μs、占空比從1%至100%可編程。

捕獲快速變化現(xiàn)象，速率達(dá)1,000,000讀數(shù)/秒，連續(xù)1μs/點(diǎn)采樣。

3.提高試驗(yàn)可靠性和可重復(fù)性

精密定時(shí)和嚴(yán)格的通道同步對(duì)當(dāng)今的測(cè)試要求至關(guān)重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號(hào)，**控制每一源測(cè)量步驟的定時(shí)。它還嚴(yán)格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin測(cè)試防止測(cè)量和負(fù)載信號(hào)失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，并獲得高準(zhǔn)確度和可復(fù)現(xiàn)的測(cè)量結(jié)果。

4.快速、簡(jiǎn)便地執(zhí)行I-V測(cè)試
無需編程或安裝，TSP&reg; Express軟件工具即執(zhí)行常見的I-V測(cè)試。嵌入式測(cè)試腳本處理器(TSP&reg;)使用戶能夠創(chuàng)建儀器可直接運(yùn)行的腳本，進(jìn)一步提高測(cè)試自動(dòng)化。
該TSP Express測(cè)量屏幕所示為利用兩臺(tái)2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結(jié)果，然后導(dǎo)出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。

Part III 2651A的應(yīng)用領(lǐng)域從基本測(cè)試到**測(cè)試，利用TSP Express都能快速、簡(jiǎn)便的配置。